EN IEC 60749-23:2026(D)
Numero di articolo:
DV-54045/3
Lingua:
tedesco
Editore:
Cenelec
Comitato tecnico competente, a livello nazionale:
TK 47
Riferimento CEI:
[IEC 60749-23:2025]
Numero di pagine:
2
Anno di pubblicazione:
2026-01
Data di ratifica (DOR):
13.01.2026
Numero di norma sostituita:
SN EN 60749-23:2004 + Amendments
Data di ritiro (DOW) 
:
:31.01.2029
Titolo della norma
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23 : Durée de vie en fonctionnement à haute température
Contatto
