[WasCatStruct.Art.Name1]

Norm

IEC 60746-2:2003 cor1{ed2.0}(E)
Expression of performance of electrochemical analyzers - Part 2: pH value
Sprache: Englisch
0.00

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Norm

IEC 60746-3:2002 cor1{ed2.0}(E)
Expression of performance of electrochemical analyzers - Part 3: Electrolytic conductivity
Sprache: Englisch
0.00

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Norm

IEC 60747-1:2006/COR1:2008(E)
Semiconductor devices - Part 1: General
Sprache: Englisch
0.00

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Norm

IEC 60748-3:1986 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 3: Circuits intégrés analogiques
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-1:2002/COR1:2003(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 1: Généralités
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-10:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 10: Chocs mécaniques
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-11:2002/COR2:2003(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de température - Méthode des deux bains
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-11:2002/COR1:2003(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de température - Méthode des deux bains
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-12:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 12: Vibrations, fréquences variables
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-13:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13 : Atmosphère saline
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-2:2002/COR1:2003(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 2: Basse pression atmosphérique
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-20:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 20: Résistance des CMS à boîtier plastique à l'effet combiné de l'humidité et de la chaleur de soudage
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-22:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 22: Robustesse des contacts soudés
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-3:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 3 : Examen visuel externe
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-31:2002/COR1:2003(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 31: Inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause interne d'inflammation)
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-4:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4: Essai continu fortement accéléré de contrainte de chaleur humide (HAST)
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-6:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 6: Stockage à haute température
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-7:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 7: Mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-8:2002/COR2:2003(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 8: Etanchéité
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-8:2002/COR1:2003(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 8: Etanchéité
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60749-9:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 9: Permanence du marquage
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60754-1:2011/COR1:2013(E/F)
Essai sur les gaz émis lors de la combustion des matériaux des câbles - Partie 1: Détermination de la quantité de gaz acide halogéné
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 60779:2005 cor1{ed2.0}(E/F)
Equipements électrothermiques industriels - Méthodes d'essai des fours de refusion sous laitier électroconducteur
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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Norm

IEC 62047-5:2011 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF
Sprache: Französisch Englisch
0.00

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IEC 60749-10:2002 cor1{ed1.0}(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 10: Chocs mécaniques Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-11:2002/COR2:2003(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de température - Méthode des deux bains Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-11:2002/COR1:2003(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de température - Méthode des deux bains Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-12:2002 cor1{ed1.0}(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 12: Vibrations, fréquences variables Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-13:2002 cor1{ed1.0}(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13 : Atmosphère saline Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-2:2002/COR1:2003(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 2: Basse pression atmosphérique Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-20:2002 cor1{ed1.0}(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 20: Résistance des CMS à boîtier plastique à l'effet combiné de l'humidité et de la chaleur de soudage Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-22:2002 cor1{ed1.0}(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 22: Robustesse des contacts soudés Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-3:2002 cor1{ed1.0}(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 3 : Examen visuel externe Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-31:2002/COR1:2003(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 31: Inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause interne d'inflammation) Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-4:2002 cor1{ed1.0}(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4: Essai continu fortement accéléré de contrainte de chaleur humide (HAST) Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-6:2002 cor1{ed1.0}(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 6: Stockage à haute température Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-7:2002 cor1{ed1.0}(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 7: Mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-8:2002/COR2:2003(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 8: Etanchéité Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-8:2002/COR1:2003(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 8: Etanchéité Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-9:2002 cor1{ed1.0}(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 9: Permanence du marquage Sprache: Französisch Englisch

IEC 60754-1:2011/COR1:2013(E/F) Essai sur les gaz émis lors de la combustion des matériaux des câbles - Partie 1: Détermination de la quantité de gaz acide halogéné Sprache: Französisch Englisch

IEC 60779:2005 cor1{ed2.0}(E/F) Equipements électrothermiques industriels - Méthodes d'essai des fours de refusion sous laitier électroconducteur Sprache: Französisch Englisch

IEC 62047-5:2011 cor1{ed1.0}(E/F) Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF Sprache: Französisch Englisch

IEC 60746-2:2003 cor1{ed2.0}(E)
Expression of performance of electrochemical analyzers - Part 2: pH value
Sprache: Englisch

IEC 60746-3:2002 cor1{ed2.0}(E)
Expression of performance of electrochemical analyzers - Part 3: Electrolytic conductivity
Sprache: Englisch

IEC 60747-1:2006/COR1:2008(E)
Semiconductor devices - Part 1: General
Sprache: Englisch

IEC 60748-3:1986 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 3: Circuits intégrés analogiques
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-1:2002/COR1:2003(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 1: Généralités
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-10:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 10: Chocs mécaniques
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-11:2002/COR2:2003(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de température - Méthode des deux bains
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-11:2002/COR1:2003(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de température - Méthode des deux bains
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-12:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 12: Vibrations, fréquences variables
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-13:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13 : Atmosphère saline
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-2:2002/COR1:2003(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 2: Basse pression atmosphérique
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-20:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 20: Résistance des CMS à boîtier plastique à l'effet combiné de l'humidité et de la chaleur de soudage
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-22:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 22: Robustesse des contacts soudés
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-3:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 3 : Examen visuel externe
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-31:2002/COR1:2003(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 31: Inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause interne d'inflammation)
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-4:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4: Essai continu fortement accéléré de contrainte de chaleur humide (HAST)
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-6:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 6: Stockage à haute température
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-7:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 7: Mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-8:2002/COR2:2003(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 8: Etanchéité
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-8:2002/COR1:2003(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 8: Etanchéité
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60749-9:2002 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 9: Permanence du marquage
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60754-1:2011/COR1:2013(E/F)
Essai sur les gaz émis lors de la combustion des matériaux des câbles - Partie 1: Détermination de la quantité de gaz acide halogéné
Sprache: Französisch Englisch

IEC 60779:2005 cor1{ed2.0}(E/F)
Equipements électrothermiques industriels - Méthodes d'essai des fours de refusion sous laitier électroconducteur
Sprache: Französisch Englisch

IEC 62047-5:2011 cor1{ed1.0}(E/F)
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF
Sprache: Französisch Englisch