SN EN 60749-29:2003 corr{Mar2004}(E/D/F)
Numéro d'article:
DV-13950/4
Langue:
Allemand Français Anglais
Nombre de pages:
3
Année de publication:
2003-12
Date de retrait (DOW) 
:
:01.12.2006
Titre de la norme
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 29: Latch-up-Prüfung
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 29: Latch-up test
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques. Partie 29: Essai de verrouillage
