SN EN 60749-29:2003 corr{Mar2004}(E/D/F)
Numero di articolo:
DV-13950/4
Lingua:
tedesco francese inglese
Numero di pagine:
3
Anno di pubblicazione:
2003-12
Data di ritiro (DOW) 
:
:01.12.2006
Titolo della norma
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 29: Latch-up-Prüfung
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 29: Latch-up test
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques. Partie 29: Essai de verrouillage
